NIMP| Analiza microstructurala prin microscopie electronica de baleiaj (SEM) - NIMP
I~ NOTE
MICROSCOP ELECTRONIC CU BALEIAJ Tip Quanta Inspect F, producator FEI- PHILIPS Olanda – ECOMET
04_Microscopia electronică_site.pptx
MICROSCOPIA ELECTRONICA CU SCANARE
NIMP| Analiza microstructurala prin microscopie electronica de baleiaj (SEM) - NIMP
Microscop electronic de baleiaj cu dispozitiv EDAX – HITACHI S2600N - Micronanotech
Microscop electronic de baleiaj APREO SEM
Microscop electronic de baleiaj APREO SEM
STUDIU DE MICROSCOPIE A SUPRAFEŢELOR BRACKET-URILOR METALICE ŞI CERAMICE
Microscop electronic de baleiaj cu dispozitiv EDAX – HITACHI S2600N - Micronanotech
Echipamente
MICROSCOP ELECTRONIC CU BALEIAJ Tip Quanta Inspect F, producator FEI- PHILIPS Olanda – ECOMET
Microscop electronic de baleiaj cu dispozitiv EDAX – HITACHI S2600N - Micronanotech
Metode şi tehnici de cercetare în domeniu. Planificarea cercetării. Training pe aparatură/Software performante
Microscoape Electronice cu Transmisie Morgagnia | aparatura de laborator
Caracterizare - Microscopie electronica de baleiaj [SEM] (conventionala si cu emisie in camp) si Spectroscopie de raze X cu disp
TEZĂ DE DOCTORAT
DEZVOLTARE BAZĂ MATERIALĂ DE CERCETARE PENTRU PROCESARE ŞI CARACTERIZARE MATERIALE AVANSATE NANOSTRUCTURATE | National Institute of Research and Development for Technical Physics
04_Microscopia electronică_site.pptx
MICROSCOP ELECTRONIC CU BALEIAJ Tip Quanta Inspect F, producator FEI- PHILIPS Olanda – ECOMET
Microscop electronic de baleiaj cu dispozitiv EDAX – HITACHI S2600N - Micronanotech
Microscop electronic de baleiaj QUATRO ESEM
Microscop electronic de baleiaj APREO SEM
